上海IC卡芯片頂破試驗(yàn)機(jī)本試驗(yàn)機(jī)測(cè)控系統(tǒng)可進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲、剝離、低周疲勞等項(xiàng)物理力學(xué)試驗(yàn)；計(jì)算機(jī)、控制顯示任意段在過程中的Z大力值、Z小力值、平均值等；可根據(jù)客戶產(chǎn)品要求按GB、DIN、ISO、JIS、ASTM等標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)

QJ210電子式穿刺強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)有著強(qiáng)大的數(shù)控顯示系統(tǒng)，可以做2500N以內(nèi)整個(gè)材料中拉伸、壓縮、彎曲、剝離、刺破等試驗(yàn)，全液晶數(shù)控設(shè)定所需參數(shù)，曲線、位移、力值能動(dòng)態(tài)顯示在數(shù)顯器上，聯(lián)接電腦實(shí)現(xiàn)全電腦控制并打印標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)報(bào)告；*改變傳統(tǒng)材料式試驗(yàn)機(jī)機(jī)臺(tái)笨重、操作復(fù)雜、性能單一之缺點(diǎn)。外觀采用擠型封板及高級(jí)烤漆處理，更顯美觀大方。

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手機(jī)鋰電池穿刺試驗(yàn)機(jī)適用于鋰電池及其它非金屬材料和金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲、剝離、撕裂、刺破、剪切、低周疲勞等力學(xué)性能測(cè)試和分析研究。

紙張刺破試驗(yàn)機(jī)是傾技公司研發(fā)出針對(duì)辦公用紙、瓦楞紙等試樣在試驗(yàn)過程中的進(jìn)行2500N以內(nèi)的刺破強(qiáng)度試驗(yàn)?？筛鶕?jù)客戶要求滿足GB、ISO、JIS、ASTM、等標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。